HITACHI掃描電鏡特點(diǎn)：
 

　　*高分辨成像
 

　　日立的高亮度電子源可保證了即使在低著(zhù)陸電壓下，也可獲得高分辨的圖像。
 

　　高襯度的低加速電壓背散射圖像
 

　　3D NAND截面觀(guān)察;
 

　　在低加速電壓條件下，背散射電子信號能夠顯示出氧化硅層和氮化硅層的襯度差別。
 

　　快速BSE圖像：新型閃爍體背散射電子探測器(OCD)*
 

　　由于使用了新型的OCD探測器，即使掃描時(shí)間不到1秒，也仍然可以觀(guān)察到Fin-FET清晰的深層結構圖像。
 

　　自動(dòng)化功能*
 

　　EM Flow Creator 允許客戶(hù)創(chuàng )建連續圖像采集的自動(dòng)化工作流程。EM Flow Creator將不同的SEM功能定義為圖形化的模塊，如設置放大倍率、移動(dòng)樣品位置、調節焦距和明暗對比度等。用戶(hù)可以通過(guò)簡(jiǎn)單的鼠標拖拽，將這些模塊按邏輯順序組成一個(gè)工作程序。經(jīng)過(guò)調試和確認后，該程序便可以在每次調用時(shí)自動(dòng)獲得高質(zhì)量、重現性好的圖像數據。
 

　　靈活的用戶(hù)界面
 

　　原生支持雙顯示器，提供靈活、高效的操作空間。6通道同時(shí)顯示與保存，實(shí)現快速的多信號觀(guān)測與采集。