X射線(xiàn)熒光分析儀技術(shù)特點(diǎn)介紹：
 

　　1、X射線(xiàn)熒光分析儀在測定微量成分時(shí)，由于X射線(xiàn)管的連續X射線(xiàn)所產(chǎn)生的散射線(xiàn)會(huì )產(chǎn)生較大的背景，致使目標峰的觀(guān)測比較困難。為了降低或消除背景和特征譜線(xiàn)等的散射X射線(xiàn)對高靈敏度分析的影響，此熒光分析儀配置了4種可自動(dòng)切換的濾光片，有效地降低了背景和散射X射線(xiàn)的干擾，調整出*具感度的輻射，進(jìn)一步提高了S/N的比值，從而可以進(jìn)行更高靈敏度的微量分析。

 

　　2、X射線(xiàn)管的連續X射線(xiàn)所產(chǎn)生的散射線(xiàn)會(huì )產(chǎn)生較大的背景，軟件可自動(dòng)過(guò)濾背景對分析結果的干擾，從而能確保對任何塑料樣品的進(jìn)行快速準確的分析。
 

　　3、當某些元素的電子由高等級向低等級越遷時(shí)釋放的能量相近，會(huì )使此時(shí)譜圖的波峰重疊在一起，由此產(chǎn)生了重疊峰。自行開(kāi)發(fā)的軟件自動(dòng)剝離重疊峰，確保了元素分析的正確性。
 

　　4、逃逸峰：由于采用的是Si針半導體探測器，因此當X射線(xiàn)熒光在通過(guò)探測器的時(shí)候，如果某種元素的含量較高(能量也會(huì )相應的較高)，其被Si吸收的概率也就越大。此時(shí)，光譜圖中在該元素的能量值減去Si能量值的地方回產(chǎn)生一個(gè)峰，此峰即為逃逸峰。
 

　　5、在電壓不穩的情況下，可對掃描譜圖的漂移進(jìn)行自動(dòng)追蹤補償。